Rastersondenmikroskopie (SPM)

Rastersondenmethoden nutzen spezifische Wechselwirkungen zwischen einer nanoskaligen Sonde und der zu untersuchenden Oberfläche aus. Die Sonde wird dabei Zeile für Zeile über die Oberfläche gerastert, wobei an diskreten Punkten die Größe der Wechselwirkung ausgelesen wird und als Bild dargestellt wird. Die Wechselwirkung kann dabei z.B. elektrischer (STM), mechanischer (AFM) oder optischer Natur (SNOM) sein. Ein hohes laterales Auflösungsvermögen wird durch eine im Idealfall atomar scharfe Sonde erzielt (punktförmige Ausdehnung) und durch den geringen Abstand zwischen Sonde und Oberfläche, der nur einige Nanometer oder weniger beträgt.